Applied Scanning Probe Methods I
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 476
- Udgivet:
- 13. januar 2004
- Udgave:
- 2004
- Størrelse:
- 235x155x27 mm.
- Vægt:
- 1002 g.
- 8-11 hverdage.
- 17. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Applied Scanning Probe Methods I
This book surveys near-field scanning probe techniques, covering static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization. Details applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces and roughness investigations.
Brugerbedømmelser af Applied Scanning Probe Methods I
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Applied Scanning Probe Methods I findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621