Advances in X-Ray Analysis
- Volume 28
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 408
- Udgivet:
- 30. juni 1985
- Udgave:
- 1985
- Vægt:
- 970 g.
- Ukendt - mangler pt..
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Advances in X-Ray Analysis
The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.
Brugerbedømmelser af Advances in X-Ray Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Advances in X-Ray Analysis findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621
