De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

af Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis af Patrick Echlin
Bag om Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780306421402
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 454
  • Udgivet:
  • 1. marts 1986
  • Udgave:
  • 1986
  • Størrelse:
  • 234x156x27 mm.
  • Vægt:
  • 1880 g.
  • Ukendt - mangler pt..

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Patrick Echlin

Vis alle bøger af Patrick Echlin

Beskrivelse af Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.

Brugerbedømmelser af Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis findes i følgende kategorier: