De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Bag om Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781848165366
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 348
  • Udgivet:
  • 1. september 2010
  • Størrelse:
  • 175x254x20 mm.
  • Vægt:
  • 768 g.
  • Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Brugerbedømmelser af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction



Find lignende bøger
Bogen Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction findes i følgende kategorier: