Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 348
- Udgivet:
- 1. september 2010
- Størrelse:
- 175x254x20 mm.
- Vægt:
- 768 g.
- Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.
Brugerbedømmelser af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621