De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

- Proceedings of the Workkshop, Les Houches, France February 24-March 6, 1987

indgår i Springer Proceedings in Physics serien

Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
Bag om Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642729690
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 389
  • Udgivet:
  • 6. december 2011
  • Udgave:
  • 11987
  • Størrelse:
  • 173x245x21 mm.
  • Vægt:
  • 662 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 13. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Beskrivelse af Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.

Brugerbedømmelser af Semiconductor Interfaces: Formation and Properties



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Semiconductor Interfaces: Formation and Properties findes i følgende kategorier: