Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 85
- Udgivet:
- 30. september 2015
- Størrelse:
- 256x178x10 mm.
- Vægt:
- 156 g.
- 2-3 uger.
- 17. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy
The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.
Brugerbedømmelser af Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621