Lifetime Spectroscopy
- A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 492
- Udgivet:
- 19. oktober 2010
- Udgave:
- 12005
- Størrelse:
- 234x156x26 mm.
- Vægt:
- 874 g.
- 8-11 hverdage.
- 13. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Beskrivelse af Lifetime Spectroscopy
Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.
Brugerbedømmelser af Lifetime Spectroscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Lifetime Spectroscopy findes i følgende kategorier:
© 2024 Pling BØGER Registered company number: DK43351621