Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
indgår i IOP Concise Physics serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 104
- Udgivet:
- 1. oktober 2015
- Størrelse:
- 178x253x8 mm.
- Vægt:
- 178 g.
- 2-3 uger.
- 10. december 2024
Normalpris
Abonnementspris
- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding
Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.
Brugerbedømmelser af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology findes i følgende kategorier: