De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

af David C. Cox

indgår i IOP Concise Physics serien

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology af David C. Cox
Bag om Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781643278469
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 104
  • Udgivet:
  • 1. oktober 2015
  • Størrelse:
  • 178x6x254 mm.
  • Vægt:
  • 367 g.
  • 2-3 uger.
  • 10. december 2024
På lager

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om David C. Cox

Vis alle bøger af David C. Cox

Beskrivelse af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

Brugerbedømmelser af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology findes i følgende kategorier: