De Aller-Bedste Bøger - over 12 mio. danske og engelske bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

af Weronika Walkosz

indgår i Springer Theses serien

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces af Weronika Walkosz
Bag om Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781441978165
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 110
  • Udgivet:
  • 8. april 2011
  • Størrelse:
  • 241x162x12 mm.
  • Vægt:
  • 324 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 6. december 2024

Normalpris

Abonnementspris

- Rabat på køb af fysiske bøger
- 1 valgfrit digitalt ugeblad
- 20 timers lytning og læsning
- Adgang til 70.000+ titler
- Ingen binding

Abonnementet koster 75 kr./md.
Ingen binding og kan opsiges når som helst.

Bag om Weronika Walkosz

Vis alle bøger af Weronika Walkosz

Beskrivelse af Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Brugerbedømmelser af Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces findes i følgende kategorier: